Próximamente se celebrarán las 2as Jornadas Técnicas del Máster en Valoración, Catastro y sistemas de Información Territorial.
Como ocurrió en las 1as Jornadas, se ha programado una de ellas para que sea presencial y con un enfoque práctico. Esta jornada solo será para alumnos del máster y no será retransmitida por videoconferencia como la del día 12 de abril.
Esta jornada se ha llamado «Captura de datos mediante levantamiento topográfico y GPS para la elaboración de un proyecto SIG«.
Las fechas de esta jornada serán dobles, se realizará la primera el día 11 de abril de 2014 y se repetirá ésta el día 8 de Mayo de 2014 para favorecer la asistencia de los alumnos de las distintas zonas geográficas.
Esta jornada presencial tendrá lugar en la Universidad Miguel Hernández, Campus de Orihuela (EPSO) y los profesores del máster que la impartirán serán José Cordero Gracia, Cesáreo Bas Vivancos y José Antonio Ayen López.
Para la realización de las mismas se dispondrá del siguiente material:
- Equipo de campo:
- Estación GPS Leica ATX 1230
- Estaciones Total Leica TC 407
- Equipo de gabinete:
- Ordenador personal por alumno con el siguiente software:
- Autocad Civil 3D 2011.
- Leica Geoffice.
- gvSIG 1.11
El programa de la jornada será el siguiente:
- 9:00 a 10:00 Presentación y objetivos de la jornada. Lugar: Aula de idiomas.
- 10:00 a 13:00 Trabajo de campo: Levantamiento topográfico de una parcela con estación total con apoyo de GPS para Georreferenciación. Captura de elementos puntuales y lineales de instalaciones con GPS. Lugar: Campus EPSO.
- 13:00 a 14:00 Gabinete topográfico. Lugar: Laboratorio de Topografía.
- 16:00 a 20:00 Elaboración proyecto SIG. Incorporación de datos gráficos y alfanuméricos obtenidos en campo. Depuración de la información. Análisis. Obtención de mapas. Lugar: Sala ordenadores C2.